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Workshop 1:
Oberflächenanalytik und Messtechnik


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Di., 24.10.2017, 11:00 – 15:30 Uhr und
Mi., 25.10.2017, 09:00 - 10:30 Uhr

Moderne Oberflächenbeschichtungs- und Strukturierungsverfahren erlauben die gezielte Steuerung von mechanischen und/oder optischen Oberflächeneigenschaften, die wiederum von den chemischen und strukturellen Eigenschaften der Oberflächen abhängen. Oberflächenanalytik und Oberflächenmesstechnik dienen der quantitativen Erfassung dieser Eigenschaften und sind unverzichtbare Werkzeuge für die Qualitätskontrolle, bei der Fehler- und Versagensanalyse und in Forschung und Entwicklung.
Im Workshop werden sowohl Methoden der Vakuumanalytik als auch Messtechniken unter Atmosphärenbedingungen behandelt. Die Vortragsthemen stellen eine Auswahl aus dem weiten Spektrum der heute verfügbaren Methoden dar, die jeder Anwender kennen sollte, der sich mit Dünnschichttechnologie beschäftigt. Dabei werden neue Trends und Entwicklungen aufgezeigt und es wird insbesondere auf die Anwendung dieser Methoden in der Praxis der Oberflächen- und Dünnschichttechnik eingegangen.
Im Einzelnen werden folgende Schwerpunkte behandelt:

•    Repräsentative und quantitative Charakterisierung
•    Big Data in der Analytik
•    Höchstauflösende dreidimensionale Charakterisierung
•    Prozesskontrolle und Monitoring
•    Charakterisierung spezieller Schichtfunktionen (Tribologie, Optik …)
•    Mapping und Imaging von Oberflächen- und Schichteigenschaften

Ansprechpartner: Uwe Beck, uwe.beck@bam.de


Veranstalter:
•    Deutsche Vakuumgesellschaft e.V. (DVG)
•    Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM)
•    Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e. V. (EFDS)


Programmkomitee:
•    Uwe Beck (BAM)
•    Michael Kopnarski (DVG)
•    Sven Ulrich (DVG)
•    Michael Wahl (DVG)

 

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