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Workshop 1:
Oberflächenanalytik und Messtechnik

Dienstag, 24. Oktober 2017

Entwicklung neuer Werkstoffe durch kombinatorische Materialsynthese, Hochdurchsatzcharakterisierung und Datenvisualisierung
Alfred Ludwig, Ruhr-Universität Bochum, Institut für Werkstoffe, Bochum

Inline – Automated XRF Solutions
Marcus Glaum, Helmut-Fischer GmbH, Sindelfingen

Qualitätssicherung von der Kunststofffolie bis zur fertigen Kaffeekapsel – Industrie 4.0
Christian Florin, flo-ir berührungslos messen, Oberdorf, Schweiz

 
Ellipsometry on curved surfaces for thin film and defect inspection for automotive applications
Uwe Richter, SENTECH Instruments GmbH, Berlin

Characterizing coating quality with high resolution profiling and nano-mechanical testing
Udo Volz, Bruker Nano GmbH, Karlsruhe

Lokalisierung und Identifizierung von Punktdefekten in Barriereschichten auf Kunststofffolien
Mariagrazia Troia, Universität Stutgart, Institut für Grenzflächenverfahrenstechnik und Plasmatechnologie, Stuttgart

Elektrische und optische inline-Charakterisierung von leitfähigen Beschichtungen
Marcus Klein, SURAGUS GmbH, Dresden

 

Mittwoch, 25. Oktober 2017

In situ Röntgenexperimente: Echtzeit-Untersuchungen der Strukturbildung während des reaktiven und nicht-reaktiven Sputterprozesses

Bärbel Krause, Institute for Photon Science and Synchrotron Radiation, KIT Karlsruhe, Karlsruhe

Atomsondentomografie – Ausgewählte Beispiele zur Messtechnik und Analytik auf der atomaren Skala

Torben Boll, KIT Karlsruhe, Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde, Karlsruhe

Nano-dünne Schichten: Herausforderungen bei der Charakterisierung mechanischer Eigenschaften auf der Nanoskala

Malgorzata Kopycinska-Müller, Fraunhofer Institut für Keramische Technologien und Systeme IKTS, Dresden

 

 

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